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大容量DRAMのテスト効率化のためのオンチップマルチビットテスト機能
日高 秀人 藤島 一康 熊野谷 正樹 宮武 秀司 堂阪 勝己 西村 安正 吉原 務 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1987/10/25
Vol. J70-C
No. 10
pp. 1391-1398
論文種別:
論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(760.3KB) | |
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Auto/Self Refresh機能内蔵64Kbit MOSダイナミックRAM
山田 通裕 谷口 真 小林 稔史 熊野谷 正樹 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1983/01/25
Vol. J66-C
No. 1
pp. 62-69
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(712KB) | |
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ソフトエラーを考慮したダイナミックMOS RAMの回路設計
長山 安治 熊野谷 正樹 山田 通裕 吉原 務 谷口 真 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1982/07/25
Vol. J65-C
No. 7
pp. 522-529
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(649.6KB) | |
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ダイナミックMOS RAMの基板電圧平滑コンデンサ
谷口 真 山田 通裕 熊野谷 正樹 小林 稔史 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1982/07/25
Vol. J65-C
No. 7
pp. 530-536
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(510.4KB) | |
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