熊野谷 正樹


メガビットDRAMの高性能化のための最適設計
熊野谷 正樹 宮武 秀司 堂阪 勝己 小西 康弘 池田 勇人 古田 勲 吉原 務 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1988/07/25
Vol. J71-C  No. 7  pp. 1007-1014
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(788.2KB)

大容量DRAMのテスト効率化のためのオンチップマルチビットテスト機能
日高 秀人 藤島 一康 熊野谷 正樹 宮武 秀司 堂阪 勝己 西村 安正 吉原 務 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1987/10/25
Vol. J70-C  No. 10  pp. 1391-1398
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(760.3KB)

Auto/Self Refresh機能内蔵64Kbit MOSダイナミックRAM
山田 通裕 谷口 真 小林 稔史 熊野谷 正樹 中野 隆生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1983/01/25
Vol. J66-C  No. 1  pp. 62-69
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(712KB)

ソフトエラーを考慮したダイナミックMOS RAMの回路設計
長山 安治 熊野谷 正樹 山田 通裕 吉原 務 谷口 真 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1982/07/25
Vol. J65-C  No. 7  pp. 522-529
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(649.6KB)

ダイナミックMOS RAMの基板電圧平滑コンデンサ
谷口 真 山田 通裕 熊野谷 正樹 小林 稔史 中野 隆生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1982/07/25
Vol. J65-C  No. 7  pp. 530-536
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(510.4KB)