浅川 毅


テスト命令に基づくDDR3メモリモジュールテスタの開発
浅川 毅 松埜 智 土屋 秀和 関 達也 熊澤 慎一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2012/04/01
Vol. J95-D  No. 4  pp. 928-939
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
LSIテストFPGADDR3メモリモジュール
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擬似ランダムベクトルとATPGベクトルを利用した低電力指向TPG
土屋 秀和 阿部 高也 増田 良介 浅川 毅 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2009/06/01
Vol. J92-D  No. 6  pp. 777-783
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
ATPGベクトルGated Clock平均電流シフトレジスタ低電力
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トランジション故障を検出するBIST指向テストパターン発生回路
浅川 毅 岩崎 一彦 梶原 誠司 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/02/01
Vol. J84-D1  No. 2  pp. 165-172
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
BISTトランジション故障ランダムパターン検出困難故障ATPGベクトル実動作速度テスト
 あらまし | 本文:PDF(489.4KB)

ATPGベクトルを利用したBIST用テストパターン発生回路
浅川 毅 岩崎 一彦 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/03/25
Vol. J83-D1  No. 3  pp. 360-367
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
TPG分割シフトランダムパターン検出困難故障ATPGベクトル実動作速度テスト
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