河野 正樹


基板電圧バックバイアス状態での低電圧テストにおける短絡欠陥検出能力の評価
佐藤 康夫 河野 正樹 池田 聡雄 山崎 巌 浜本 正人 岩崎 一彦 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6  pp. 1047-1056
論文種別:  特集論文 (LSIのテスト・診断技術論文小特集)
専門分野: テスト手法
キーワード: 
IDDQテストWLVテストVLVテスト欠陥ベーステスト短絡欠陥
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