橋詰 保


GaN系ショットキー接合のリーク電流
橋詰 保 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2005/08/01
Vol. J88-C  No. 8  pp. 621-629
論文種別:  解説論文
専門分野: 
キーワード: 
GaNショットキー接合リーク電流トンネル電流表面欠陥
 あらまし | 本文:PDF(428.7KB)