樹下 行三


イメージセンサに対する統計型エラーモデルとそのテスト手法について
市原 英行 口井 敏匡 山達 正明 坂口 英明 植村 博 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2006/08/01
Vol. J89-D  No. 8  pp. 1663-1672
論文種別:  特集論文 (ディペンダブルコンピューティング論文特集)
専門分野: 半導体テスト
キーワード: 
イメージセンサデバイス撮像エラーモデル統計値外れ値
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中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について
温 暁青 梶原 誠司 玉本 英夫 ケワール K. サルージャ 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/04/01
Vol. J88-D1  No. 4  pp. 906-907
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
トランジスタ短絡故障ケースシミュレーション中間故障電圧しきい値電圧
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テストポイントとフェーズシフタを用いたBISTによるクロストーク故障検査
清水 和也 白井 孝典 板崎 徳禎 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2002/05/01
Vol. J85-D1  No. 5  pp. 453-464
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
クロストーク故障BISTLFSRテストポイントフェーズシフタ
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ディジタルVLSIにおけるクロストーク故障に対する組込み自己検査手法
清水 和也 板崎 徳禎 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/03/01
Vol. J84-D1  No. 3  pp. 257-268
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
クロストーク故障組込み自己検査手法BIST
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IDDQテストを対象としたテスト系列の圧縮法
前田 敏行 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 958-961
論文種別:  特集レター (テストと設計検証論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
IDDQテストテスト圧縮順序回路
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順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法
樋上 喜信 Kewal K. Saluja 高松 雄三 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 879-887
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
IDDQテスト順序回路テスト系列圧縮ブリッジ故障
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論理回路における遅延テスト不要パスの高速導出法
梶原 誠司 樹下 行三 イリス ポメランツ スダーカ M. レディ 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 888-896
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: 故障モデルとテスト技法
キーワード: 
パス遅延故障含意操作テスト生成フォールスパス解析
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テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について
市原 英行 梶原 誠司 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 861-868
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
テスト生成テスト圧縮故障検出率IDDQテスト
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到達不能状態に基づく順序回路の冗長除去手法
四柳 浩之 梶原 誠司 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1998/02/25
Vol. J81-D1  No. 2  pp. 204-212
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
冗長除去到達不能状態検出不能故障縮退故障順序回路
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並列チャネルシステムにおけるGo-Back-N ARQ方式の特性解析
陳 春祥 小松 雅治 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 B
発行日: 1997/04/25
Vol. J80-B1  No. 4  pp. 169-178
論文種別:  論文
専門分野: 交換,通信処理
キーワード: 
Go-Back-N ARQ並列チャネルシステムスループット待ち行列
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ゲートレベル組合せ回路の単一論理設計誤りに対する診断手法
吉川 篤志 梶原 誠司 沼 昌宏 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1009-1016
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 設計検証
キーワード: 
論理設計誤り論理検証故障診断ベクトルペア解析
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低消費電力設計とそのテスタビリティに関する考察
上田 祐彰 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1030-1036
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 論理合成
キーワード: 
CMOS論理回路ローパワー設計テスタビリティトランスダクション法
 あらまし | 本文:PDF(485.2KB)

部分回路除去に対する含意関係の不変性について
市原 英行 梶原 誠司 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1037-1045
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 論理合成
キーワード: 
テスト生成静的学習論理合成含意関係冗長除去
 あらまし | 本文:PDF(570.7KB)

トランジスタ短絡故障のIDDQテストベクトルの選択について
温 暁青 玉本 英夫 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1113-1122
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 電流テスト
キーワード: 
CMOS回路IDDQテストトランジスタ短絡故障モデル等価故障解析IDDQテストベクトルの選択
 あらまし | 本文:PDF(698.3KB)

CMOS回路における最大変化ゲート数の評価手法について
上田 祐彰 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1995/03/25
Vol. J78-D1  No. 3  pp. 367-375
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
CMOS回路最大消費電力変化ゲート数分枝限定法部分的全数探索
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マルコフビット誤りチャネルにおけるARQ方式のスループット特性
小松 雅治 岡本 克明 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 B
発行日: 1994/08/25
Vol. J77-B1  No. 8  pp. 522-529
論文種別:  論文
専門分野: 信号方式,通信プロトコル
キーワード: 
ARQ方式スループットマルコフビット誤りチャネル性能評価
 あらまし | 本文:PDF(490.6KB)

ゲート伝搬遅延を考慮したクロストーク故障の検査入力生成手法
板崎 徳禎 内藤 久生 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1994/05/25
Vol. J77-D1  No. 5  pp. 384-391
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
検査入力生成クロストーク故障ゲート遅延
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反復伝送を用いたハイブリッドGo-Back-N ARQ方式のトラヒック解析
小松 雅治 林田 行雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 B
発行日: 1993/04/25
Vol. J76-B2  No. 4  pp. 215-224
論文種別:  論文
専門分野: 衛星通信
キーワード: 
誤り制御プロトコルハイブリッドARQGo-Back-N ARQ衛星通信性能評価
 あらまし | 本文:PDF(591.6KB)

組込み電流テストのためのテスト回路とテスト生成手法
三浦 幸也 和田 恭司 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1992/05/25
Vol. J75-D1  No. 5  pp. 305-313
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
電流テスト導通故障CMOS回路テスト生成
 あらまし | 本文:PDF(573.5KB)

検出不能故障のクラス化による組合せ回路の冗長除去について
梶原 誠司 芝 温子 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1992/02/25
Vol. J75-D1  No. 2  pp. 107-115
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
冗長性の除去検出不能故障テストパターン生成論理回路の簡単化
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組合せ回路のスタックオープン故障に対するテストパターン生成について
梶原 誠司 板崎 徳禎 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1990/12/25
Vol. J73-D1  No. 12  pp. 997-1005
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
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可観測な環境を前提としたテストパターン生成
梶原 誠司 板崎 徳 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1990/03/25
Vol. J73-D1  No. 3  pp. 342-349
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
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全可観測な環境でのNAND論理回路のスタックオープン故障の検査手法について
樹下 行三 温 暁青 スダーカ M.レディ 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1990/02/25
Vol. J73-D1  No. 2  pp. 245-252
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(625.8KB)

活性化経路を利用した検査入力生成の効率化手法―PATHアルゴリズム―
板崎 徳 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1990/01/25
Vol. J73-D1  No. 1  pp. 65-71
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
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トライステート素子を含む回路のテスト生成手法について
板崎 徳 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1989/09/25
Vol. J72-D1  No. 9  pp. 685-692
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレラント
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(564.1KB)

ランダムロジックで構成したプロセッサ制御回路の検査容易化設計
岡本 卓爾 大西 伸一 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1987/07/25
Vol. J70-D  No. 7  pp. 1294-1303
論文種別:  論文
専門分野: 計算機システム・構成要素
キーワード: 
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構造記述関数を用いた組合せ回路の故障検査について
樹下 行三 高松 雄三 柴田 正治 松藤 信哉 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1981/08/25
Vol. J64-D  No. 8  pp. 690-696
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(567.7KB)

自己診断システムにおける診断能力の改善法
金 武完 藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1980/01/25
Vol. J63-D  No. 1  pp. 93-100
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(639.8KB)

検査データ圧縮のための検査機構について
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1978/06/25
Vol. J61-D  No. 6  pp. 427-433
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(611.9KB)

NORNANDセルラアレーの最小故障検査入力に関する一考察
高松 雄三 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1977/09/25
Vol. J60-D  No. 9  pp. 734-741
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(552.4KB)

確率的診断可能なシステムの構成について
金 武完 藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1977/09/25
Vol. J60-D  No. 9  pp. 750-757
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(642KB)

n入力n出力保存形論理素子の万能性について
笹尾 勤 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/09/25
Vol. J59-D  No. 9  pp. 629-635
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(533.8KB)

故障検査容易な非同期式順序機械について
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/08/25
Vol. J59-D  No. 8  pp. 560-566
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(549KB)

NORNANDセルラアレイの一構成法
高松 雄三 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/07/25
Vol. J59-D  No. 7  pp. 483-489
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(545.2KB)

ド・ブルインのグラフと故障検査容易な順序機械について
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/05/25
Vol. J59-D  No. 5  pp. 372-374
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(281.9KB)

保存形論理素子の万能性について
笹尾 勤 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1975/11/25
Vol. J58-D  No. 11  pp. 705-711
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(505.9KB)

2入力保存形論理素子を用いた多出力論理回路の構成
笹尾 勤 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1975/10/25
Vol. J58-D  No. 10  pp. 625-632
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(531.6KB)

初期状態識別系列を持たない不完全記述順序機械の故障検査
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1975/06/25
Vol. J58-D  No. 6  pp. 298-305
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(649KB)

スイッチング機能をもつ2次元バブルメモリ
松田 潤 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1975/03/25
Vol. J58-D  No. 3  pp. 143-149
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(458.1KB)

入力付加による故障検査容易な順序機械
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1974/10/25
Vol. J57-D  No. 10  pp. 589-595
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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不完全記述順序機械の故障検査
藤原 秀雄 長尾 陽一 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1974/09/25
Vol. J57-D  No. 9  pp. 527-533
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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磁気バブル論理素子による論理回路の最小形
笹尾 勤 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1974/08/25
Vol. J57-D  No. 8  pp. 479-486
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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磁気バブル論理系の解析
松田 潤 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1974/01/25
Vol. J57-D  No. 1  pp. 39-45
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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順序機械の出力可観測形実現と故障検査
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1973/08/25
Vol. J56-D  No. 8  pp. 473-479
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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半加算器アレイの故障検査の一般化について
松田 潤 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1973/03/25
Vol. J56-D  No. 3  pp. 140-145
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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ユネイトカスケードに関する一考察
細見 輝政 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1973/01/25
Vol. J56-D  No. 1  pp. 1-8
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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出力端子付加による診断容易な順序機械について
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1972/12/25
Vol. J55-D  No. 12  pp. 807-814
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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故障検査を考慮した組合せ回路の一構成法
山本 勝 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1972/01/25
Vol. J55-D  No. 1  pp. 31-38
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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モジュールを用いた論理回路とその故障検査
山本 勝 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1971/09/25
Vol. J54-C  No. 9  pp. 804-810
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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セル構造をした論理回路の故障診断
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1971/05/25
Vol. J54-C  No. 5  pp. 435-436
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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半加算器アレイの故障検査について
岡本 務 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1971/05/25
Vol. J54-C  No. 5  pp. 362-369
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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シフトレジスタを持つ順序回路の故障検査系列の構成法
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1971/02/25
Vol. J54-C  No. 2  pp. 132-139
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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冗長な入力変数をもたない樹枝状回路による論理関数構成の一考察
細見 輝政 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1970/11/25
Vol. J53-C  No. 11  pp. 839-846
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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系列発生器の構成に関する一考察
村上 伸一 樹下 行三 尾崎 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1970/01/25
Vol. J53-C  No. 1  pp. 9-15
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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シフトレジスタ形順序回路の故障検査について
河田 亨 樹下 行三 尾崎 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1969/07/25
Vol. J52-C  No. 7  pp. 378-384
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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万能型順序回路について
村上 伸一 樹下 行三 尾崎 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1969/04/25
Vol. J52-C  No. 4  pp. 240-241
論文種別:  研究速報
専門分野: 
キーワード: 
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故障検査を考慮した順序機械の構成法
村上 伸一 樹下 行三 尾崎 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1968/10/25
Vol. J51-C  No. 10  pp. 455-462
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(692.9KB)