植村 博


イメージセンサに対する統計型エラーモデルとそのテスト手法について
市原 英行 口井 敏匡 山達 正明 坂口 英明 植村 博 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2006/08/01
Vol. J89-D  No. 8  pp. 1663-1672
論文種別:  特集論文 (ディペンダブルコンピューティング論文特集)
専門分野: 半導体テスト
キーワード: 
イメージセンサデバイス撮像エラーモデル統計値外れ値
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多変数ARMAモデルによるスペクトル密度の推定
竹内 誠 植村 博一 酒井 英昭 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1984/03/25
Vol. J67-D  No. 3  pp. 343-350
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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