| 木村 光宏
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テスト項目の消化過程に基づくソフトウェアテスト進ちょく度評価モデルに関する考察 木村 光宏 山田 茂 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1
No. 12
pp. 1211-1217
論文種別:
特集論文 (テスティング技術論文特集) 専門分野: ソフトウェアテスト キーワード: ソフトウェアテスト進ちょく度, テスト項目, 死滅過程, ソフトウェア信頼性, | | あらまし | 本文:PDF(412.4KB) | |
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テスト労力の投入量を考慮した運用段階におけるソフトウェアの信頼性評価に関する一考察 山田 茂 木村 光宏 尾崎 俊治 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1989/12/25
Vol. J72-D1
No. 12
pp. 922-924
論文種別:
レター 専門分野: キーワード:
| | あらまし | 本文:PDF(174.8KB) | |
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