市原 英行


アプリケーションの要求精度に応じた近似加算器と補正機構による乗算器の設計
市原 英行 溝畑 亮雅 芦田 満喜 井上 智生 
誌名:   
発行日: 2021/07/01
Vol. J104-D  No. 7  pp. 586-595
論文種別:  特集論文 (機能集積情報システム論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
近似乗算補正ビット局所桁上げ型加算器非桁上げ型加算器エラートレラントアプリケーション
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シグモイド関数のゲインに着目した完全ストカスティック計算ニューロンの設計
可児 冬弥 市原 英行 岩垣 剛 井上 智生 
誌名:   
発行日: 2021/07/01
Vol. J104-D  No. 7  pp. 552-561
論文種別:  特集論文 (機能集積情報システム論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
近似計算双曲線正接関数シグモイド関数積和演算器線形FSM
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組込み自己テストにおける巡回符号を用いた同時テスト可能な応答圧縮器
深澤 祐樹 市原 英行 井上 智生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2012/03/01
Vol. J95-D  No. 3  pp. 496-505
論文種別:  特集論文 (学生論文特集)
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
組込み自己テスト応答圧縮器符号化同時テストマルチサイクルシグネチャ
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部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法
岡 伸也 Chia Yee OOI 市原 英行 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2009/12/01
Vol. J92-D  No. 12  pp. 2207-2216
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
スルー可検査性無閉路可検査性テスト容易化設計時間展開モデル組合せテスト生成アルゴリズム
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イメージセンサに対する統計型エラーモデルとそのテスト手法について
市原 英行 口井 敏匡 山達 正明 坂口 英明 植村 博 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2006/08/01
Vol. J89-D  No. 8  pp. 1663-1672
論文種別:  特集論文 (ディペンダブルコンピューティング論文特集)
専門分野: 半導体テスト
キーワード: 
イメージセンサデバイス撮像エラーモデル統計値外れ値
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高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について
市原 英行 井上 智生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6  pp. 1021-1028
論文種別:  特集論文 (LSIのテスト・診断技術論文小特集)
専門分野: テスト圧縮
キーワード: 
VLSIテストデータ圧縮統計型符号テスト生成テスト圧縮
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論理回路に対するテストコスト削減法―テストデータ量及びテスト実行時間の削減―
樋上 喜信 梶原 誠司 市原 英行 高松 雄三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2004/03/01
Vol. J87-D1  No. 3  pp. 291-307
論文種別:  サーベイ論文
専門分野: 
キーワード: 
論理回路テストコストテストコンパクションテストコンプレッションテスト実行時間削減
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テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について
市原 英行 梶原 誠司 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 861-868
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
テスト生成テスト圧縮故障検出率IDDQテスト
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部分回路除去に対する含意関係の不変性について
市原 英行 梶原 誠司 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1037-1045
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 論理合成
キーワード: 
テスト生成静的学習論理合成含意関係冗長除去
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