大豆生田 利章


単電子インバータに対するパラメータ変動の影響
大豆生田 利章 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2011/07/01
Vol. J94-C  No. 7  pp. 184-192
論文種別:  論文
専門分野: 半導体材料・デバイス
キーワード: 
単電子トンネリング信頼性単電子論理回路容量結合型単電子トランジスタ相補型単電子論理回路
 あらまし | 本文:PDF(677.6KB)

単一電子論理回路における新しいタイプの故障
大豆生田 利章 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/05/01
Vol. J88-D1  No. 5  pp. 949-957
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
単一電子トランジスタ単一電子論理回路モンテカルロ法論理故障
 あらまし | 本文:PDF(960.6KB)

状態遷移図と組合せ回路部テストを利用した順序回路のテスト生成
長谷川 哲 三浦 恭子 大豆生田 利章 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/03/25
Vol. J83-D1  No. 3  pp. 339-347
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
順序回路テスト生成状態遷移図UIO系列活性化ベクタ集合
 あらまし | 本文:PDF(450KB)