大嶋 建次


赤外線画像のヒストグラムによるICボードの故障検出
西野 聰 大嶋 建次 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/09/25
Vol. J82-D1  No. 9  pp. 1154-1164
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
故障検出赤外線画像ヒストグラムVLSI電源電流テスト
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赤外線画像によるICボードの故障検出
西野 聰 大嶋 建次 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/06/25
Vol. J80-D1  No. 6  pp. 514-526
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
故障検出赤外線画像電源電流テスト故障診断VLSI
 あらまし | 本文:PDF(727.1KB)

超伝導体球の散乱断面積
大嶋 建次 北城 勝栄 栗林 仁 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1994/12/25
Vol. J77-C1  No. 12  pp. 763-766
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
超伝導体球散乱断面積複素導電率等価複素誘電率臨界温度
 あらまし | 本文:PDF(202KB)