多田 哲生


半導体ウェーハテスト工程の納期を改善する手法と評価
奥村 憲三 多田 哲生 小山 健 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2010/07/01
Vol. J93-C  No. 7  pp. 231-240
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
納期ウェーハテストテスタパラメータ設計寄与率
 あらまし | 本文:PDF(291.5KB)

VLSIメモリの評価用試験プログラム構造およびその適用
浜田 光洋 西村 安正 多田 哲生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1991/11/25
Vol. J74-C2  No. 11  pp. 755-762
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(488.2KB)

テスト回路内蔵RAMのLSIテスタによるテスト時間短縮化の検討
多田 哲生 田中 宏 山田 強 常友 力 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1990/03/25
Vol. J73-C2  No. 3  pp. 203-212
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(758.7KB)