堂阪 勝己


メガビットDRAMの高性能化のための最適設計
熊野谷 正樹 宮武 秀司 堂阪 勝己 小西 康弘 池田 勇人 古田 勲 吉原 務 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1988/07/25
Vol. J71-C  No. 7  pp. 1007-1014
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
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大容量DRAMのテスト効率化のためのオンチップマルチビットテスト機能
日高 秀人 藤島 一康 熊野谷 正樹 宮武 秀司 堂阪 勝己 西村 安正 吉原 務 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1987/10/25
Vol. J70-C  No. 10  pp. 1391-1398
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(760.3KB)