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大容量DRAMのテスト効率化のためのオンチップマルチビットテスト機能
日高 秀人 藤島 一康 熊野谷 正樹 宮武 秀司 堂阪 勝己 西村 安正 吉原 務 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1987/10/25
Vol. J70-C
No. 10
pp. 1391-1398
論文種別:
論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(760.3KB) | |
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高集積ダイナミックRAMのビット線容量の測定
小西 康弘 藤島 一康 吉原 務 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1986/12/25
Vol. J69-C
No. 12
pp. 1560-1562
論文種別:
レター
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(228.1KB) | |
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MOSダイナミックRAMのソフトエラーに対する回路設計の影響
吉原 務 益子 耕一郎 高野 聡 長山 安治 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1983/08/25
Vol. J66-C
No. 8
pp. 600-607
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(532.5KB) | |
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ダイナミックMOS RAMのアクセス時間解析
長山 安治 益子 耕一郎 吉原 務 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1983/05/25
Vol. J66-C
No. 5
pp. 369-376
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(584.7KB) | |
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ソフトエラーを考慮したダイナミックMOS RAMの回路設計
長山 安治 熊野谷 正樹 山田 通裕 吉原 務 谷口 真 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1982/07/25
Vol. J65-C
No. 7
pp. 522-529
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(649.6KB) | |
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MOSダイナミックRAMのソフトエラー解析
吉原 務 高野 聡 谷口 真 原田 昿嗣 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1982/04/25
Vol. J65-C
No. 4
pp. 251-256
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(434.4KB) | |
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ダイナミックRAMの動作開始時不良の解析
益子 耕一郎 下酉 和博 吉原 務 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1981/11/25
Vol. J64-C
No. 11
pp. 805-806
論文種別:
技術談話室
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(148.7KB) | |
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MOSダイナミックRAMのソフトエラー
吉原 務 高野 聡 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1981/08/25
Vol. J64-C
No. 8
pp. 469-474
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(479.2KB) | |
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スケーリング法を適用した大容量ダイナミックMOS RAMの回路設計
長山 安治 吉原 務 中野 隆生 蒲生 容仁 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1981/02/25
Vol. J64-C
No. 2
pp. 61-68
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(662KB) | |
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