口井 敏匡


イメージセンサに対する統計型エラーモデルとそのテスト手法について
市原 英行 口井 敏匡 山達 正明 坂口 英明 植村 博 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2006/08/01
Vol. J89-D  No. 8  pp. 1663-1672
論文種別:  特集論文 (ディペンダブルコンピューティング論文特集)
専門分野: 半導体テスト
キーワード: 
イメージセンサデバイス撮像エラーモデル統計値外れ値
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電流テストによるバイポーラ組合せ論理回路のブリッジ故障検出のための検査容易化設計法
橋爪 正樹 矢野 武志 口井 敏匡 為貞 建臣 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1092-1104
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 電流テスト
キーワード: 
電流テストブリッジ故障検査容易化設計組合せ論理回路IDDQテスト
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