原田 昿嗣


MOSダイナミックRAMのソフトエラー解析
吉原 務 高野 聡 谷口 真 原田 昿嗣 中野 隆生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1982/04/25
Vol. J65-C  No. 4  pp. 251-256
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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AuSn共晶反応を用いた同時ボンディング強度
小原 雅信 原田 昿嗣 坂根 英生 道井 一成 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1976/10/25
Vol. J59-C  No. 10  pp. 681-682
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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横形p-n-pトランジスタに対するn+埋込層の影響
大久保 利美 原田 昿嗣 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1973/04/25
Vol. J56-C  No. 4  pp. 235-241
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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横形トランジスタのエミッタ接地電流増幅率
大久保 利美 原田 昿嗣 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1972/08/25
Vol. J55-C  No. 8  pp. 411-417
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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