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MOSダイナミックRAMのソフトエラー解析
吉原 務 高野 聡 谷口 真 原田 昿嗣 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1982/04/25
Vol. J65-C
No. 4
pp. 251-256
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(434.4KB) | |
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AuSn共晶反応を用いた同時ボンディング強度
小原 雅信 原田 昿嗣 坂根 英生 道井 一成 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1976/10/25
Vol. J59-C
No. 10
pp. 681-682
論文種別:
技術談話室
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(163.1KB) | |
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横形p-n-pトランジスタに対するn+埋込層の影響
大久保 利美 原田 昿嗣 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1973/04/25
Vol. J56-C
No. 4
pp. 235-241
論文種別:
論文・資料
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(649KB) | |
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横形トランジスタのエミッタ接地電流増幅率
大久保 利美 原田 昿嗣 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1972/08/25
Vol. J55-C
No. 8
pp. 411-417
論文種別:
論文・資料
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(599.3KB) | |
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