勝部 昭明


MNOSダイオード中のトラップ密度分布と書き込み,消去,および保持特性の解析
勝部 昭明 安達 芳夫 生駒 俊明 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1976/02/25
Vol. J59-C  No. 2  pp. 99-106
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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