前田 俊二


Gaussian Process Regressionに基づく時系列データの異常モニタリング
和田 俊和 尾崎 晋作 前田 俊二 渋谷 久恵 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2013/12/01
Vol. J96-D  No. 12  pp. 3068-3078
論文種別:  論文
専門分野: パターン認識
キーワード: 
異常モニタリング故障予測Gaussian Process RegressionSimilarity Based Modeling
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対話的教示欠陥選択に基づく効率的な実欠陥・虚報弁別技術
浦野 貴裕 酒井 薫 前田 俊二 佐藤 真一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2013/01/01
Vol. J96-D  No. 1  pp. 221-229
論文種別:  論文
専門分野: 画像認識,コンピュータビジョン
キーワード: 
外観検査能動学習対話的教示欠陥選択
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局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パターン照合への応用
浦野 貴裕 金子 俊一 高氏 秀則 田中 孝之 前田 俊二 渋谷 久恵 吉田 実 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2007/10/01
Vol. J90-D  No. 10  pp. 2798-2806
論文種別:  論文
専門分野: パターン認識
キーワード: 
LCPD照合欠陥点群ロバスト性
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散布図情報を用いたLSIウェーハ薄膜多層パターン比較検査アルゴリズム
前田 俊二 酒井 薫 岡部 隆史 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/07/01
Vol. J88-D2  No. 7  pp. 1173-1186
論文種別:  論文
専門分野: 画像認識,コンピュータビジョン
キーワード: 
欠陥検査画像認識散布図半導体
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微分極性比較法によるLSIウェーハ多層パターンの自動外観検査
前田 俊二 広井 高志 窪田 仁志 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/01/25
Vol. J82-D2  No. 1  pp. 39-52
論文種別:  論文
専門分野: 画像処理,画像パターン認識
キーワード: 
LSI検査マッチング
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比較検査における数値解析手法を用いたしきい値設定支援
前田 俊二 遠藤 文昭 牧平 坦 窪田 仁志 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1998/01/25
Vol. J81-D2  No. 1  pp. 27-36
論文種別:  論文
専門分野: 画像・パターン認識,コンピュータビジョン
キーワード: 
外観検査しきい値LSI誤検出率数値解析
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赤外線画像マッチングによるTFT基板の高精度ショート欠陥検出
前田 俊二 小野 眞 窪田 仁志 中谷 光雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/09/25
Vol. J80-D2  No. 9  pp. 2333-2344
論文種別:  論文
専門分野: 画像・パターン認識,コンピュータビジョン
キーワード: 
液晶ディスプレイショート赤外線画像マッチング
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LSIウェーハパターン自動外観検査における最適しきい値の自動生成
前田 俊二 窪田 仁志 牧平 坦 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/02/25
Vol. J79-D2  No. 2  pp. 191-201
論文種別:  論文
専門分野: 画像・パターン認識,コンピュータビジョン
キーワード: 
外観検査しきい値LSIエッジ保存
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カスケードパターンマッチングによるLSIウェーハ多層パターン自動外観検査
前田 俊二 窪田 仁志 牧平 担 二宮 隆典 中川 泰夫 谷口 雄三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1989/12/25
Vol. J72-D2  No. 12  pp. 2012-2022
論文種別:  論文
専門分野: 画像・パターン処理
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(897.2KB)