伊東 朋弘


GaAsプレーナデバイスの動作層に対する界面トラップの影響
谷本 正幸 伊東 朋弘 御代 時博 生駒 俊明 柳井 久義 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1978/04/25
Vol. J61-C  No. 4  pp. 227-234
論文種別:  論文
専門分野: 
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ガン効果ディジタルデバイス電流-電圧特性の直流バイアス異常現象
谷本 正幸 鈴木 幸治 伊東 朋弘 柳井 久義 L.M.F.カウフマン W.ニーベンディック K.ハイメ 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1977/11/25
Vol. J60-C  No. 11  pp. 698-705
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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