井上 智生


アプリケーションの要求精度に応じた近似加算器と補正機構による乗算器の設計
市原 英行 溝畑 亮雅 芦田 満喜 井上 智生 
誌名:   
発行日: 2021/07/01
Vol. J104-D  No. 7  pp. 586-595
論文種別:  特集論文 (機能集積情報システム論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
近似乗算補正ビット局所桁上げ型加算器非桁上げ型加算器エラートレラントアプリケーション
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シグモイド関数のゲインに着目した完全ストカスティック計算ニューロンの設計
可児 冬弥 市原 英行 岩垣 剛 井上 智生 
誌名:   
発行日: 2021/07/01
Vol. J104-D  No. 7  pp. 552-561
論文種別:  特集論文 (機能集積情報システム論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
近似計算双曲線正接関数シグモイド関数積和演算器線形FSM
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組込み自己テストにおける巡回符号を用いた同時テスト可能な応答圧縮器
深澤 祐樹 市原 英行 井上 智生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2012/03/01
Vol. J95-D  No. 3  pp. 496-505
論文種別:  特集論文 (学生論文特集)
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
組込み自己テスト応答圧縮器符号化同時テストマルチサイクルシグネチャ
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部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法
岡 伸也 Chia Yee OOI 市原 英行 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2009/12/01
Vol. J92-D  No. 12  pp. 2207-2216
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
スルー可検査性無閉路可検査性テスト容易化設計時間展開モデル組合せテスト生成アルゴリズム
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高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について
市原 英行 井上 智生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6  pp. 1021-1028
論文種別:  特集論文 (LSIのテスト・診断技術論文小特集)
専門分野: テスト圧縮
キーワード: 
VLSIテストデータ圧縮統計型符号テスト生成テスト圧縮
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ホールド機能を考慮した順序回路の部分スキャン設計法
佐野 ちいほ 三原 隆宏 井上 智生 Debesh K.  DAS 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/09/25
Vol. J83-D1  No. 9  pp. 981-990
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
ホールドレジスタ無閉路順序回路最大展開モデル組合せテスト生成部分スキャン
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無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
高崎 智也 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/02/25
Vol. J83-D1  No. 2  pp. 282-292
論文種別:  論文
専門分野: ネットワーク
キーワード: 
高位合成部分スキャン設計無閉路構造最小クリーク分割データパス
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時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法
細川 利典 井上 智生 平岡 敏洋 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 869-878
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
時間展開モデル無閉路順序回路テスト系列圧縮テンプレート逆変換故障シミュレーション
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内部平衡構造に基づく部分スキャン設計法に関する考察
高崎 智也 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1998/03/25
Vol. J81-D1  No. 3  pp. 318-327
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
順序回路テスト生成内部平衡構造バイパスフリップフロップ拡張部分スキャン設計
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部分スキャンによる同期化可能な有限状態機械の合成について
四浦 洋 井上 智生 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1046-1054
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 論理合成
キーワード: 
テスト容易化設計有限状態機械同期化系列部分スキャン設計拡張同期化系列
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テーブル参照型FPGAにおける論理ブロックの検査法
道西 博行 横平 徳美 岡本 卓爾 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1141-1150
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: FPGAテスト
キーワード: 
FPGA論理ブロックルックアップテーブルプログラム故障検出
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テスト生成における並列処理の最適なシステム構成について
井上 智生 米澤 友紀 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1993/11/25
Vol. J76-D1  No. 11  pp. 604-612
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テスト生成並列処理マルチプロセッサ故障並列最適プロセッサ数
 あらまし | 本文:PDF(566.9KB)