亀井 靖高


11種類のfault密度予測モデルの実証的評価
小林 寛武 戸田 航史 亀井 靖高 門田 暁人 峯 恒憲 鵜林 尚靖 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2013/08/01
Vol. J96-D  No. 8  pp. 1892-1902
論文種別:  論文
専門分野: ソフトウェア工学
キーワード: 
fault密度予測実証的実験オープンソースプロジェクトバージョン間の予測Demšar's significance diagram
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ソフトウェア開発プロジェクトをまたがるfault-proneモジュール判別の試み―18プロジェクトの実験から得た教訓―
藏本 達也 亀井 靖高 門田 暁人 松本 健一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2012/03/01
Vol. J95-D  No. 3  pp. 425-436
論文種別:  特集論文 (学生論文特集)
専門分野: ソフトウェア工学
キーワード: 
プロジェクト間予測fault-proneモジュール判別ランダムフォレスト実証的実験
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OSSプロジェクトにおける開発者の活動量を用いたコミッター候補者予測
伊原 彰紀 亀井 靖高 大平 雅雄 松本 健一 鵜林 尚靖 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2012/02/01
Vol. J95-D  No. 2  pp. 237-249
論文種別:  論文
専門分野: ソフトウェア工学
キーワード: 
オープンソースソフトウェア開発コミッター予測開発者活動量EclipseプロジェクトMozillaプロジェクト
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開発者メトリックスに基づくソフトウェア信頼性の分析
本 真佑 亀井 靖高 門田 暁人 松本 健一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2010/08/01
Vol. J93-D  No. 8  pp. 1576-1589
論文種別:  論文
専門分野: ソフトウェア工学
キーワード: 
開発者メトリックスソフトウェア信頼性バグ混入率人的要因
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クローンメトリックスを用いたfault-proneモジュー ル判別の追実験
亀井 靖高 左藤 裕紀 門田 暁人 川口 真司 上野 秀剛 名倉 正剛 松本 健一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2010/04/01
Vol. J93-D  No. 4  pp. 544-547
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
コードクローンFault-proneモジュール複雑度メトリックス追実験ロジスティック回帰
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