久慈 憲夫


EBテストパッド配置比率の向上手法
久慈 憲夫 石原 隆子 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2002/04/01
Vol. J85-C  No. 4  pp. 293-299
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
配線多層化電子ビームテスタテストパッド階段型ビア観測性
 あらまし | 本文:PDF(1.2MB)

LSIの回路修正容易化設計
久慈 憲夫 竹田 忠雄 小峰 行雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2001/11/01
Vol. J84-C  No. 11  pp. 1106-1112
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
回路修正FIBレーザCVD平たん化プロセススタックビア
 あらまし | 本文:PDF(650.4KB)

発光・発熱解析支援のための故障検証シミュレーション
久慈 憲夫 竹田 忠雄 中村 信二 小峰 行雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1151-1161
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 電子ビームテスト
キーワード: 
発光観測発熱解析故障解析論理故障モデル論理シミュレーションリーク故障
 あらまし | 本文:PDF(728.3KB)