測定精度の偏り軽減のための等質適応型テストの提案

宮澤 芳光  宇都 雅輝  石井 隆稔  植野 真臣  

誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
早期公開日: 2018/03/06
DOI: 10.14923/transinfj.2017LEP0028
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