無侵襲型プローブによる媒質の誘電率測定

水谷　慎佑  中村　隆 

誌名
電子情報通信学会論文誌 B  Vol.J95-B  No.6  pp.774-777
発行日: 2012/06/01
Online ISSN: 1881-0209
Print ISSN: 1344-4697
論文種別: レター
専門分野: 
キーワード: 
誘電率,  プローブ,  無侵襲,  間隙, 

本文: PDF(459.4KB)

あらまし: 
本論文では，媒質の比誘電率を無侵襲で推定する方法を示している．媒質の表面に平行三本線路のプローブを接触させて，その入力アドミタンスから，実効比誘電率を導出し，媒質の比誘電率を推定する．測定ではプローブと媒質との間のわずかな間隙が入力特性に与える影響は小さくなく，その寄与を理論と測定によって定量的に明らかにしている．