画素空間へのパッチワーク法と相関型電子透かし法の検出誤り確率の比較

北村 至  吉田 真紀  藤原 融  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J91-D   No.11   pp.2605-2615
発行日: 2008/11/01
Online ISSN: 1881-0225
DOI: 
Print ISSN: 1880-4535
論文種別: 論文
専門分野: 情報セキュリティ応用
キーワード: 
画素空間,  電子透かし,  パッチワーク法,  相関型電子透かし法,  検出誤り確率,  

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あらまし: 
高い信頼性を保証する電子透かし法を選択するためには,様々な電子透かし法の誤り確率を実験だけでなく理論的にも比較することが重要である.本論文では,画素空間への電子透かし法として,パッチワーク法と相関型電子透かし法を,埋込位置ごとに透かし強度が選択される一般的な場合において比較する.まずパッチワーク法の検出誤り確率が相関型電子透かし法よりも小さいことを証明し,次に実験的に確認する.例えば,パッチワーク法は相関型電子透かし法と比べて約1万分の1倍まで検出誤り確率を小さくできる.