2状態軟判定ビタビ復号における誤り状態確率の厳密解析

吉川　英機  岡　育生  藤原　値賀人 

誌名
電子情報通信学会論文誌 A  Vol.J83-A  No.4  pp.439-443
発行日: 2000/04/20
Online ISSN: 
Print ISSN: 0913-5707
論文種別: レター
専門分野: 
キーワード: 
軟判定ビタビ復号,  パスメトリック,  確率密度関数,  誤り状態確率, 

本文: PDF(206.8KB)

あらまし: 
軟判定ビタビ復号は様々な応用分野において研究が行われているが，その性能の厳密な解析結果についてはほとんど明らかにされていない．本論文では，2状態軟判定ビタビ復号に対して，パスメトリックのpdfを導出するとともに，誤り状態確率の厳密な解析法を提案する．