逆・順解析用いた近傍実測磁界分布から予測する電磁界分布とその誤差分布

林　昌世  増田　幸一郎  畠山　賢一  周　英明 

誌名
電子情報通信学会論文誌 B  Vol.J81-B2  No.7  pp.707-718
発行日: 1998/07/20
Online ISSN: 
Print ISSN: 0915-1877
論文種別: 論文
専門分野: 電磁環境
キーワード: 
電磁環境,  逆解析,  シールディング, 

本文: PDF(986.9KB)

あらまし: 
金属きょう体上の開口部から電磁波が漏えいし，きょう体外の空間に電磁界分布を形成している状況を考える．このとき，きょう体表面近傍のある面Ｓ1上の磁界分布を実測することによって，金属きょう体表面上の電流分布を推定することができる(逆解析)．つぎに，この電流分布とある係数行列の積を求めるかたちできょう体外の任意面Ｓ2上の電磁界分布を予測することができる(順解析)．ここでは，最ゆう推定法を用いて，逆解析を行った．逆・順解析を用いて近傍磁界分布から面Ｓ2上の電磁界分布を予測するときには，測定誤差分布のほか，面Ｓ1，きょう体表面，面Ｓ2の三つの格子網の設定の仕方に依存する予測誤差分布が生じる．本論文では，この設定の仕方に依存する予測誤差分布を明らかにした．上記逆・順解析の有効性を検討するため，特別な場合として，推定されたきょう体表面上の電流分布から，もともと測定を実施した面Ｓ1上の磁界分布を順解析より求め，その結果を実測値と比較した．比較はよい一致を示した．最大の電磁干渉レベルを考慮するため，ここでは可能な最大の測定誤差分布として，すべての測定点が一様な値をもつ測定誤差を仮定し，予測誤差分布を計算した．同仮定に基づいて測定誤差分布を標準偏差を表す定数σ0と単位行列との積(測定誤差行列)によって表現すると，逆・順解析による電界予測誤差分布は，面Ｓ1，きょう体表面，面Ｓ2の三者の格子網の設定の仕方と定数σ0によって決まる．従って，可能とする最大測定誤差を仮定すれば，任意面上の電磁界分布を，それと伴う予測誤差と共に算出することができる．いま，金属きょう体からの漏えいに対して何らかの低減対策を施してその効果を調べる場合，対策前後の測定と計算に上述の同一の格子網を用いるとすると，予測誤差分布が等しく現れるため，予測面Ｓ2上の電磁界分布のみの比較から対策効果を評価することができる．漏えいのある電子機器の金属きょう体を模擬したモデル波源を実験室で製作した．モデル波源近傍の磁界分布を測定し，半径3.0ｍの円筒面上の電磁界分布およびその誤差分布の予測結果を示した．