いくつかのアダマール符号に対する完全自己検査性検査回路の設計法

脇田 直樹  木 健一  岩垂 好裕  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J80-D1   No.1   pp.81-89
発行日: 1997/01/25
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Print ISSN: 0915-1915
論文種別: 論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
自己検査回路,  直交符号,  陪直交符号,  アダマール符号,  差集合,  

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あらまし: 
アダマール符号はアダマール行列から導かれ,信号処理,特徴抽出,通信,マルチプレクサ等広い応用範囲をもつ重要な符号であるが,その完全自己検査性検査回路の設計は,いまだ論じられていないと考えられる.ここではその設計法を論じるが,アダマール符号は符号語の全数が少なく,またそのパターンが限られており,その設計にはアダマール符号独自の工夫を必要とする.アダマール符号にはシルベスタ型,M系列型,ペーレイ型の3種類があり,ここではまずmを非負整数としてp=8m+3で与えられる素数を次数とするペーレイ型アダマール符号の検査回路設計を論じる.p=8m+7を次数とする符号の検査回路設計は未解決の問題である.またシルベスタ型とM系列型のアダマール符号は等価であり,その検査回路設計は組織符号の検査回路設計の延長として求められることが示される.従ってここで得られた全体の結果は,今までに知られたアダマール符号の過半数に対する設計法を与えることになる.