リーク電流補償によるCMOS ICの高温動作化

水野 健太朗  太田 則一  北川 文孝  長瀬 宏  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J80-C2   No.2   pp.87-88
発行日: 1997/02/25
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Print ISSN: 0915-1907
論文種別: レター論文
専門分野: 
キーワード: 
CMOS,  高温動作,  リーク電流,  補償,  

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あらまし: 
MOS ICの高温動作化を実現するために,従来方式よりも高精度に補償できる新しい補償回路を提案し,基準電圧発生回路に適用して,試作・評価を行った結果,20~40℃動作温度が拡大した.