UHF帯における誘電体装荷空洞共振器を用いた誘電体平板の複素誘電率測定

于 靜  小林 禧夫  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J78-C1   No.2   pp.104-111
公開日: 1995/02/25
Online ISSN: 
Print ISSN: 0915-1893
論文種別: 論文
専門分野: マイクロ波,ミリ波
キーワード: 
マイクロ波,  誘電体共振器,  誘電率測定,  

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あらまし: 
本論文では,高誘電率低損失誘電体円柱(比誘電率εr,誘電正接tanδr)を空洞内に装荷する誘電体装荷空洞共振器を二つに分割し,その間に誘電体平板試料を挟む構造により,1~2GHzにおいて1辺50mmの誘電体平板試料の複素誘電率(εsとtanδs)を測定する方法を提案する.本測定法の特長は,誘電体円柱付近にエネルギーが集中するために空洞と試料接触部における縁端効果は無視できることにある.実際に,2GHzにおいて種々の平板試料の測定を行い,その測定誤差を評価する.その結果,εsの測定精度は,試料厚さ2t=1.0mmで2tのばらつき⊿2t=0.01mmをもつ通常の平板試料の場合,εs=2に対して8%,εs=5に対して3%,εs=10に対して2%以内に収まる.もし⊿2t=0.003mm以内に製作できれば,εsの測定精度はそれぞれ3%,1%,0.7%に改善される.また,tanδsの測定精度は,tanδs=10-4の場合30%,tanδs=10-3の場合2%程度である.本測定法は,UHF帯において,εs=2~20,tanδs=10-3~10-4,2t=0.3~2mmの範囲の平板試料に対して有効である.