軽量認証暗号TWINE-OTRに対する2段階電力解析とその評価

野崎 佑典  吉川 雅弥  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J101-D   No.3   pp.512-521
発行日: 2018/03/01
Online ISSN: 1881-0225
DOI: 10.14923/transinfj.2017PDP0028
論文種別: 特集論文 (学生論文特集)
専門分野: 情報ネットワーク
キーワード: 
電力解析,  暗号回路,  ハードウェアセキュリティ,  サイドチャネル攻撃,  耐タンパ性,  

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あらまし: 
IoT機器のセキュリティ確保のための技術として,TWINE-OTRが注目されている.TWINE-OTRは軽量暗号TWINEと認証暗号方式OTRを組み合わせた認証暗号である.一方で,暗号回路のセキュリティでは,電力解析の危険性が指摘されている.そのため,IoT機器で利用されるTWINE-OTRの耐タンパ性を検証することは非常に重要である.しかし,これまでにTWINE-OTRを対象とした電力解析の研究は筆者らの知る限りにおいて報告されていない.そこで本研究では,新たにTWINE-OTRの耐タンパ性の検証に必要な電力解析手法を提案する.提案手法では,TWINE-OTRの秘密鍵を解析するために,2段階の電力解析を行う.また,TWINE-OTRの構造に着目した複数の暗号文生成部分を対象とした解析を行うことで,解析効率を向上させる.更に,Field Programmable Gate Array(FPGA)を用いた評価実験の結果,提案手法の有効性を実証する.