パイプラインプロセッサにおけるカスケードTMRの歩留りと欠陥レベルの解析手法

新井 雅之  岩崎 一彦  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J101-D   No.10   pp.1462-1465
発行日: 2018/10/01
Online ISSN: 1881-0225
DOI: 10.14923/transinfj.2018JDL8001
論文種別: レター
専門分野: 
キーワード: 
カスケードTMR,  テストエスケープ,  歩留り,  欠陥レベル,  パイプラインプロセッサ,  

本文: PDF(495.4KB)
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あらまし: 
パイプラインプロセッサに対し各ステージを3重化することによる故障マスクを考慮した歩留りの解析手法,並びにテストエスケープを考慮した欠陥レベルの解析手法を提案する.これに基づく数値計算結果も示す.