キーワード : テストアクセス機構

レジスタ転送レベル回路に対する連続透明化設計法
米田　友和  藤原　秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2004/12/01
Vol. J87-D1  No. 12  pp. 1110-1118
論文種別: 論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
テスト容易化設計,  システムオンチップ,  テストアクセス機構,  連続透明性,  連続可検査性, 
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連続可検査性に基づくコアベースシステムオンチップのテスト容易化設計法
米田　友和  藤原　秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2002/02/01
Vol. J85-D1  No. 2  pp. 173-183
論文種別: 論文
専門分野: アルゴリズム
キーワード: 
テスト容易化設計,  コアベースシステムオンチップ,  テストアクセス機構,  連続透明性,  連続可検査性, 
  あらまし |  本文:PDF (635.6KB)