飯島 一彦


BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバヘッドの低減
中尾 教伸 小林 誠治 畠山 一実 飯島 一彦 寺田 聖二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 852-860
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト容易化設計
キーワード: 
検査点BISTテスタビリティ最適化反復改善法
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