藤原 秀雄


拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計とセキュリティの評価
山崎 紘史 細川 利典 藤原 秀雄 
誌名:   
発行日: 2018/08/01
Vol. J101-D  No. 8  pp. 1165-1175
論文種別:  論文
専門分野: 計算機システム
キーワード: 
スキャン設計シフトレジスタ等価回路強セキュア拡張シフトレジスタセキュリティ
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セキュアスキャン設計のためのシフトレジスタ等価回路の列挙と合成
藤原 克哉 藤原 秀雄 オビエン マリー エンジェリン 玉本 英夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2010/11/01
Vol. J93-D  No. 11  pp. 2426-2436
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
テスト容易化設計セキュアスキャンシフトレジスタ機能等価列挙
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部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法
岡 伸也 Chia Yee OOI 市原 英行 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2009/12/01
Vol. J92-D  No. 12  pp. 2207-2216
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
スルー可検査性無閉路可検査性テスト容易化設計時間展開モデル組合せテスト生成アルゴリズム
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完全故障検出効率を保証するRTLデータパスの部分強可検査性に基づくテスト容易化設計法
岩田 浩幸 米田 友和 大竹 哲史 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2006/08/01
Vol. J89-D  No. 8  pp. 1643-1653
論文種別:  特集論文 (ディペンダブルコンピューティング論文特集)
専門分野: 半導体テスト
キーワード: 
テスト容易化設計データパス強可検査部分強可検査完全故障検出効率
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縮退故障のテスト生成アルゴリズムを用いたパス遅延故障に対するテスト生成法
大谷 浩平 大竹 哲史 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6  pp. 1057-1064
論文種別:  特集論文 (LSIのテスト・診断技術論文小特集)
専門分野: テスト手法
キーワード: 
パス遅延故障回路擬似変換パスリーフ化変換部分リーフダグテスト生成アルゴリズム
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縮退故障とパス遅延故障のためのプロセッサの命令レベル自己テスト法
井上 美智子 神戸 和子 ヴィレンドラ シン 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6  pp. 1003-1011
論文種別:  招待論文 (LSIのテスト・診断技術論文小特集)
専門分野: 
キーワード: 
プロセッサ自己テスト縮退故障パス遅延故障テストプログラム
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レジスタ転送レベル回路に対する連続透明化設計法
米田 友和 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2004/12/01
Vol. J87-D1  No. 12  pp. 1110-1118
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
テスト容易化設計システムオンチップテストアクセス機構連続透明性連続可検査性
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不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法
岩垣 剛 大竹 哲史 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/12/01
Vol. J86-D1  No. 12  pp. 872-883
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
遅延故障テスト生成不連続再収斂構造時間展開モデル部分拡張スキャン設計
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組合せテスト生成複雑度でパス遅延故障テスト生成可能な順序回路のクラス
三輪 俊二郎 大竹 哲史 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/11/01
Vol. J86-D1  No. 11  pp. 809-820
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
パス遅延故障同位相平衡構造組合せテスト生成複雑度拡張部分スキャン設計循環スキャンFF
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ホールドとスイッチの機能を考慮した内部平衡構造
神野 元彰 井上 美智子 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/09/01
Vol. J86-D1  No. 9  pp. 682-690
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
平衡構造内部平衡構造切換平衡構造組合せテスト生成複雑度テスト生成
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階層BIST:低いオーバヘッドを実現するTest-per-clock方式BIST
山口 賢一 井上 美智子 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/07/01
Vol. J86-D1  No. 7  pp. 469-479
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テスト容易化設計レジスタ転送レベル組込み自己テスト単一制御並行可検査性
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非停止永久故障に耐性を有する自己安定生成木構成プロトコル
浮穴 学慈 片山 喜章 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2002/11/01
Vol. J85-D1  No. 11  pp. 1007-1014
論文種別:  論文
専門分野: アルゴリズム
キーワード: 
分散プロトコル自己安定故障耐性非停止永久故障一時故障生成木
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レジスタ転送レベルデータパスの単一制御並行可検査性に基づく組込み自己テスト法
山口 賢一 和田 弘樹 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2002/06/01
Vol. J85-D1  No. 6  pp. 527-537
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テスト容易化設計レジスタ転送レベルデータパス組込み自己テスト単一制御可検査性階層テスト
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連続可検査性に基づくコアベースシステムオンチップのテスト容易化設計法
米田 友和 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2002/02/01
Vol. J85-D1  No. 2  pp. 173-183
論文種別:  論文
専門分野: アルゴリズム
キーワード: 
テスト容易化設計コアベースシステムオンチップテストアクセス機構連続透明性連続可検査性
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演算器の強可検査性を保証するテスト容易化高位合成
和田 弘樹 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/05/01
Vol. J84-D1  No. 5  pp. 466-473
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テスト容易化高位合成レジスタ転送レベルデータパス強可検査性
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固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
永井 慎太郎 和田 弘樹 大竹 哲史 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/05/01
Vol. J84-D1  No. 5  pp. 454-465
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
固定制御可検査性完全故障検出効率レジスタ転送レベル階層テスト
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アドホックネットワークにおけるクラスタ構成法
谷口 博人 井上 美智子 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/02/01
Vol. J84-D1  No. 2  pp. 127-135
論文種別:  論文
専門分野: アルゴリズム
キーワード: 
分散アルゴリズムアドホックネットワークモバイルコンピューティングクラスタ構成法
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木ネットワーク上のヒープ順序構成自己安定プロトコル
浮穴 学慈 長谷川 学 片山 喜章 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/01/01
Vol. J84-D1  No. 1  pp. 48-57
論文種別:  特集論文 (LAシンポジウム(情報基礎理論ワークショップ)論文小特集)
専門分野: 分散システム
キーワード: 
分散システム木ネットワーク自己安定プロトコル隣接間同期化ヒープ
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レジスタ転送レベルデータパスの単一制御可検査性に基づく組込み自己テスト容易化設計法
井筒 稔 和田 弘樹 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/01/01
Vol. J84-D1  No. 1  pp. 69-77
論文種別:  論文
専門分野: 計算量理論
キーワード: 
テスト容易化設計レジスタ転送レベルデータパス階層テスト組込み自己テスト
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ホールド機能を考慮した順序回路の部分スキャン設計法
佐野 ちいほ 三原 隆宏 井上 智生 Debesh K.  DAS 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/09/25
Vol. J83-D1  No. 9  pp. 981-990
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
ホールドレジスタ無閉路順序回路最大展開モデル組合せテスト生成部分スキャン
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無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
高崎 智也 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/02/25
Vol. J83-D1  No. 2  pp. 282-292
論文種別:  論文
専門分野: ネットワーク
キーワード: 
高位合成部分スキャン設計無閉路構造最小クリーク分割データパス
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共有メモリマルチプロセッサシステムにおける同期時間最適な無待機時計合せプロトコル
守屋 宣 井上 美智子 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/01/25
Vol. J83-D1  No. 1  pp. 99-109
論文種別:  特集論文 (情報基礎理論ワークショップ(LAシンポジウム)論文小特集)
専門分野: 並列・分散アルゴリズム
キーワード: 
共有メモリマルチプロセッサシステム時計合せプロトコル故障耐性無待機性同期時間
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完全故障検出効率を保証するデータパスの 非スキャンテスト容易化設計法
和田 弘樹 増澤 利光 Kewal K. Saluja 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 843-851
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト容易化設計
キーワード: 
テスト容易化設計データパス階層テスト完全故障検出効率
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時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法
細川 利典 井上 智生 平岡 敏洋 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 869-878
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
時間展開モデル無閉路順序回路テスト系列圧縮テンプレート逆変換故障シミュレーション
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直交順序を保存する方形の最小面積非交差再配置問題
林 邦彦 井上 美智子 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/06/25
Vol. J82-D1  No. 6  pp. 679-690
論文種別:  論文
専門分野: アルゴリズム
キーワード: 
グラフ描画アルゴリズム直交順序計算量
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選択問題を解くBSPモデル及びBSP* モデル上の並列アルゴリズム
石水 隆 藤原 暁宏 井上 美智子 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/04/25
Vol. J82-D1  No. 4  pp. 533-542
論文種別:  論文
専門分野: アルゴリズム
キーワード: 
並列アルゴリズムBSPモデル選択問題計算量
 あらまし | 本文:PDF(190.1KB)

弱可検査性のための設計目標抽出を利用したデータパス高位合成
東村 剛嗣 井上 美智子 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/02/25
Vol. J82-D1  No. 2  pp. 401-409
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
高位合成弱可検査性データフローグラフデータパスVLSIテスト
 あらまし | 本文:PDF(301KB)

分散移動システムのための前後関係保存放送プロトコル
大堀 力 井上 美智子 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/02/25
Vol. J82-D1  No. 2  pp. 425-435
論文種別:  論文
専門分野: 分散協調とエージェント
キーワード: 
分散アルゴリズム移動通信放送前後関係
 あらまし | 本文:PDF(217.8KB)

完全故障検出効率を保証するコントローラの非スキャンテスト容易化設計法
大竹 哲史 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1998/12/25
Vol. J81-D1  No. 12  pp. 1259-1270
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
非スキャンテスト容易化設計完全故障検出効率コントローラ実動作速度テスト
 あらまし | 本文:PDF(931.8KB)

内部平衡構造に基づく部分スキャン設計法に関する考察
高崎 智也 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1998/03/25
Vol. J81-D1  No. 3  pp. 318-327
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
順序回路テスト生成内部平衡構造バイパスフリップフロップ拡張部分スキャン設計
 あらまし | 本文:PDF(670.3KB)

組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能な順序回路構造とその応用
藤原 秀雄 大竹 哲史 高崎 智也 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/02/25
Vol. J80-D1  No. 2  pp. 155-163
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
順序回路テスト生成無閉路構造内部平衡構造部分スキャン
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部分スキャンによる同期化可能な有限状態機械の合成について
四浦 洋 井上 智生 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1046-1054
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 論理合成
キーワード: 
テスト容易化設計有限状態機械同期化系列部分スキャン設計拡張同期化系列
 あらまし | 本文:PDF(654.4KB)

テーブル参照型FPGAにおける論理ブロックの検査法
道西 博行 横平 徳美 岡本 卓爾 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1141-1150
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: FPGAテスト
キーワード: 
FPGA論理ブロックルックアップテーブルプログラム故障検出
 あらまし | 本文:PDF(682.6KB)

スルー演算を用いた非スキャン方式によるデータパスのテスト容易化設計
高畠 勝之 井上 美智子 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1063-1071
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: テスト容易化設計
キーワード: 
テスト容易化設計非スキャン方式RTレベルデータパススルー演算
 あらまし | 本文:PDF(575.9KB)

テスティング技術論文特集の発行にあたって
藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1007-1008
論文種別:  巻頭言
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(140.8KB)

自律移動ロボット群のための停止故障耐性のある分散型問題解法
吉田 大輔 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/06/25
Vol. J79-D1  No. 6  pp. 320-330
論文種別:  論文
専門分野: アルゴリズム,計算複雑性
キーワード: 
自律移動ロボット分散アルゴリズム故障耐性停止故障アルゴリズム変換
 あらまし | 本文:PDF(820.9KB)

濃淡画像の連結成分を求める並列アルゴリズム
藤原 暁宏 増澤 利光 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/05/25
Vol. J79-D1  No. 5  pp. 215-225
論文種別:  論文
専門分野: アルゴリズム,計算複雑性
キーワード: 
並列アルゴリズム画像処理連結成分PRAM
 あらまし | 本文:PDF(785.7KB)

テスト生成における並列処理の最適なシステム構成について
井上 智生 米澤 友紀 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1993/11/25
Vol. J76-D1  No. 11  pp. 604-612
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テスト生成並列処理マルチプロセッサ故障並列最適プロセッサ数
 あらまし | 本文:PDF(566.9KB)

探索状態被覆性に基づく探索空間削減の一手法
藤野 貴之 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1993/05/25
Vol. J76-D1  No. 5  pp. 218-227
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
組合せ論理回路探索空間削減探索状態被覆性探索履歴テスト生成
 あらまし | 本文:PDF(674.1KB)

ランダムテスト可能なPLAの一設計法
藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1986/12/25
Vol. J69-D  No. 12  pp. 1862-1869
論文種別:  論文
専門分野: 計算機システム・構成要素
キーワード: 
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PLAにおける検査容易化設計
藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1983/09/25
Vol. J66-D  No. 9  pp. 1046-1053
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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変数縮退に関して閉じた論理関数族と故障検査への応用
藤原 秀雄 尾崎 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1980/04/25
Vol. J63-D  No. 4  pp. 279-286
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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自己診断システムにおける診断能力の改善法
金 武完 藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1980/01/25
Vol. J63-D  No. 1  pp. 93-100
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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自己検査を有するシステム診断モデル
藤原 秀雄 尾崎 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1979/10/25
Vol. J62-D  No. 10  pp. 625-632
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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検査データ圧縮のための検査機構について
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1978/06/25
Vol. J61-D  No. 6  pp. 427-433
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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確率的診断可能なシステムの構成について
金 武完 藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1977/09/25
Vol. J60-D  No. 9  pp. 750-757
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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故障検査容易な非同期式順序機械について
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/08/25
Vol. J59-D  No. 8  pp. 560-566
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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ド・ブルインのグラフと故障検査容易な順序機械について
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/05/25
Vol. J59-D  No. 5  pp. 372-374
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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初期状態識別系列を持たない不完全記述順序機械の故障検査
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1975/06/25
Vol. J58-D  No. 6  pp. 298-305
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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入力付加による故障検査容易な順序機械
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1974/10/25
Vol. J57-D  No. 10  pp. 589-595
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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不完全記述順序機械の故障検査
藤原 秀雄 長尾 陽一 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1974/09/25
Vol. J57-D  No. 9  pp. 527-533
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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順序機械の出力可観測形実現と故障検査
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1973/08/25
Vol. J56-D  No. 8  pp. 473-479
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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出力端子付加による診断容易な順序機械について
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1972/12/25
Vol. J55-D  No. 12  pp. 807-814
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
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セル構造をした論理回路の故障診断
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1971/05/25
Vol. J54-C  No. 5  pp. 435-436
論文種別:  技術談話室
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シフトレジスタを持つ順序回路の故障検査系列の構成法
藤原 秀雄 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1971/02/25
Vol. J54-C  No. 2  pp. 132-139
論文種別:  論文・資料
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(724.3KB)