細川　利典

拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計とセキュリティの評価
山崎　紘史 細川　利典 藤原　秀雄 
誌名:   
発行日: 2018/08/01
Vol. J101-D  No. 8  pp. 1165-1175
論文種別:  論文
専門分野: 計算機システム
キーワード: 
スキャン設計, シフトレジスタ等価回路, 強セキュア, 拡張シフトレジスタ, セキュリティ, 
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故障活性化率向上のためのn回検出テスト生成法
細川　利典 山崎　浩二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2007/06/01
Vol. J90-D  No. 6  pp. 1474-1482
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
n回検出テスト, 欠陥検出率, テスト生成, テスト品質, 故障活性化率, 
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ATPGパターン数削減指向テストポイント挿入方法
吉村　正義 細川　利典 太田　光保 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/12/01
Vol. J86-D1  No. 12  pp. 884-896
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テストポイント挿入方法, ATPGパターン数, フルスキャン設計, テスト実行時間, 
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時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法
細川　利典 井上　智生 平岡　敏洋 藤原　秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 869-878
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
時間展開モデル, 無閉路順序回路, テスト系列圧縮, テンプレート, 逆変換故障シミュレーション, 
 あらまし | 本文:PDF(817.9KB)