著者索引
English Page
SITE TOP
ログイン
本文PDFの閲覧にはログインが必要です.
>
パスワードを忘れた場合は.
メニュー
検索
全文検索
英文検索
最新号目次
A:基礎・境界
和文論文誌 A
Trans.Fundamentals.
B:通信
和文論文誌 B
Trans.Commun.
C:エレクトロニクス
和文論文誌 C
Trans.Electron.
D:情報・システム
和文論文誌 D
Trans.Inf. & Syst.
-
アーカイブ
巻号一覧 [和文論文誌]
和文論文誌 A
和文論文誌 B
和文論文誌 C
和文論文誌 D
巻号一覧 [英文論文誌]
Trans.Fundamentals.
Trans.Commun.
Trans.Electron.
Trans.Inf. & Syst.
Transactions (1976-1990)
-
編集委員会メンバ
編集委員会メンバ[和文論文誌]
和文論文誌 A
和文論文誌 B
和文論文誌 C
和文論文誌 D
アーカイブ
編集委員会メンバ[英文論文誌]
Trans.Fundamentals.
Trans.Commun.
Trans.Electron.
Trans.Inf.&Syst.
Archive
-
各賞受賞論文/招待論文一覧
B:通信(無償公開)
和文論文誌 B
Trans.Commun.
C:エレクトロニクス(無償公開)
和文論文誌 C
Trans.Electron.
D:情報・システム(無償公開)
和文論文誌 D
Trans.Inf. & Syst.
-
リンク
投稿のページ
文献検索(I-Scover)
統計情報:採録率,査読期間等
委員会からのお知らせ
IEICE HP
-
その他
プライバシーポリシー
著作権について
Copyright (c) by IEICE
細川 利典
拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計とセキュリティの評価
山崎 紘史
細川 利典
藤原 秀雄
誌名:
発行日:
2018/08/01
Vol.
J101-D
No.
8
pp.
1165-1175
論文種別:
論文
専門分野:
計算機システム
キーワード:
スキャン設計
,
シフトレジスタ等価回路
,
強セキュア
,
拡張シフトレジスタ
,
セキュリティ
,
あらまし
|
本文:PDF
(1.2MB)
故障活性化率向上のためのn回検出テスト生成法
細川 利典
山崎 浩二
誌名:
電子情報通信学会論文誌 D
発行日:
2007/06/01
Vol.
J90-D
No.
6
pp.
1474-1482
論文種別:
論文
専門分野:
ディペンダブルコンピューティング
キーワード:
n回検出テスト
,
欠陥検出率
,
テスト生成
,
テスト品質
,
故障活性化率
,
あらまし
|
本文:PDF
(1.1MB)
ATPGパターン数削減指向テストポイント挿入方法
吉村 正義
細川 利典
太田 光保
誌名:
電子情報通信学会論文誌 D
発行日:
2003/12/01
Vol.
J86-D1
No.
12
pp.
884-896
論文種別:
論文
専門分野:
フォールトトレランス
キーワード:
テストポイント挿入方法
,
ATPGパターン数
,
フルスキャン設計
,
テスト実行時間
,
あらまし
|
本文:PDF
(356.7KB)
時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法
細川 利典
井上 智生
平岡 敏洋
藤原 秀雄
誌名:
電子情報通信学会論文誌 D
発行日:
1999/07/25
Vol.
J82-D1
No.
7
pp.
869-878
論文種別:
特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野:
テスト生成および圧縮
キーワード:
時間展開モデル
,
無閉路順序回路
,
テスト系列圧縮
,
テンプレート
,
逆変換故障シミュレーション
,
あらまし
|
本文:PDF
(817.9KB)