細川 利典


故障活性化率向上のためのn回検出テスト生成法
細川 利典 山崎 浩二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2007/06/01
Vol. J90-D  No. 6  pp. 1474-1482
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
n回検出テスト欠陥検出率テスト生成テスト品質故障活性化率
 あらまし | 本文:PDF(1.1MB)

ATPGパターン数削減指向テストポイント挿入方法
吉村 正義 細川 利典 太田 光保 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/12/01
Vol. J86-D1  No. 12  pp. 884-896
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テストポイント挿入方法ATPGパターン数フルスキャン設計テスト実行時間
 あらまし | 本文:PDF(356.7KB)

時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法
細川 利典 井上 智生 平岡 敏洋 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 869-878
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
時間展開モデル無閉路順序回路テスト系列圧縮テンプレート逆変換故障シミュレーション
 あらまし | 本文:PDF(817.9KB)