細川　利典

故障活性化率向上のためのn回検出テスト生成法
細川　利典 山崎　浩二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2007/06/01
Vol. J90-D  No. 6  pp. 1474-1482
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
n回検出テスト, 欠陥検出率, テスト生成, テスト品質, 故障活性化率, 
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ATPGパターン数削減指向テストポイント挿入方法
吉村　正義 細川　利典 太田　光保 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/12/01
Vol. J86-D1  No. 12  pp. 884-896
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テストポイント挿入方法, ATPGパターン数, フルスキャン設計, テスト実行時間, 
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時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法
細川　利典 井上　智生 平岡　敏洋 藤原　秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 869-878
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
時間展開モデル, 無閉路順序回路, テスト系列圧縮, テンプレート, 逆変換故障シミュレーション, 
 あらまし | 本文:PDF(817.9KB)