安藤 佑悟


バイアス条件を考慮した半導体素子の非接触IM測定法
安藤 佑悟 久我 宣裕 
誌名:   
発行日: 2019/03/01
Vol. J102-C  No. 3  pp. 44-50
論文種別:  特集論文 (社会システムの変革を牽引するヘテロインテグレーション技術論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
相互変調ひずみ非線形ノイズ非接触測定バイアス電圧2端子半導体素子
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