安田 幸夫


電子注入ストレスを加えたゲート酸化膜の電流検出型原子間力顕微鏡による解析
世古 明義 渡辺 行彦 近藤 博基 酒井 朗 財満 鎭明 安田 幸夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2004/08/01
Vol. J87-C  No. 8  pp. 616-624
論文種別:  論文
専門分野: 電子材料
キーワード: 
シリコン酸化膜電流検出型原子間力顕微鏡法信頼性ストレス誘起リーク電流トラップ
 あらまし | 本文:PDF(1.3MB)

集積化シリコン磁気ベクトルセンサ
前中 一介 藤原 久 大坂間 止 石田 誠 中村 哲郎 安田 幸夫 吉田 明 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1986/06/25
Vol. J69-C  No. 6  pp. 783-785
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(257.3KB)

テレメタリング用集積化V-F変換器
田中 成弥 須藤 稔 前中 一介 石田 誠 中村 哲郎 臼井 支朗 安田 幸夫 吉田 明 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1986/03/25
Vol. J69-C  No. 3  pp. 377-379
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(221.6KB)

CMOS集積化ディジタルフィルタ
川人 祥二 苅田 信雄 石田 誠 中村 哲郎 臼井 支朗 前中 一介 安田 幸夫 吉田 明 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1985/11/25
Vol. J68-C  No. 11  pp. 965-967
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(1MB)