伊藤 秀男


差分によるVLSI回路の遅延測定
田辺 融 加藤 健太郎 難波 一輝 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2010/04/01
Vol. J93-D  No. 4  pp. 460-468
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
VLSI遅延故障テスト微小遅延欠陥測定
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インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ論文小特集の発行にあたって
伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2002/09/01
Vol. J85-D1  No. 9  pp. 815-816
論文種別:  巻頭言
専門分野: 
キーワード: 
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状態遷移図と組合せ回路部テストを利用した順序回路のテスト生成
長谷川 哲 三浦 恭子 大豆生田 利章 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/03/25
Vol. J83-D1  No. 3  pp. 339-347
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
順序回路テスト生成状態遷移図UIO系列活性化ベクタ集合
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移動体環境における誤り回復方式の提案
八木 幹雄 金子 敬一 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/03/25
Vol. J83-D1  No. 3  pp. 348-359
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
チェックポイント移動体環境誤り回復コスト評価フォールトトレランス
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ハイパキューブの耐故障経路選択算法の耐リンク故障への拡張
金子 敬一 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/03/25
Vol. J82-D1  No. 3  pp. 514-518
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
ハイパキューブ経路選択算法耐故障性リンク故障安全ノード
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全到達可能性によるハイパキューブの耐故障経路選択算法
金子 敬一 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1998/08/25
Vol. J81-D1  No. 8  pp. 1024-1030
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
ハイパキューブ経路選択算法耐故障性全到達可能性安全ノード
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WSIネットワーク配線の欠陥救済とハイパキューブへの適用
伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1994/02/25
Vol. J77-D1  No. 2  pp. 101-110
論文種別:  特集論文 (ウェーハスケール集積システム論文小特集)
専門分野: プロセッサ
キーワード: 
WSI欠陥救済オープン欠陥ショート欠陥ハイパキューブ
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シフトチャネルを用いたWSIハイパキューブの構成法
伊藤 秀男 細谷 英一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1993/12/25
Vol. J76-D1  No. 12  pp. 666-675
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
WSIハイパキューブシフトチャネル基本チャネルFET
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ウェーハスケールLSI上でのハイパキューブの構成法
伊藤 秀男 鈴木 信行 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1990/03/25
Vol. J73-D1  No. 3  pp. 314-323
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
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樹枝状2-レベル組合せ回路の最小2-パターンテスト系列
伊藤 秀男 小野崎 靖智 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1990/03/25
Vol. J73-D1  No. 3  pp. 324-335
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
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CMOS組合せ回路の開放故障のError Latency
伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1987/01/25
Vol. J70-D  No. 1  pp. 60-69
論文種別:  論文
専門分野: 計算機システム・構成要素
キーワード: 
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自己検査性2-レール符号検査回路のためのMOS構成モジュールの自己検査性
伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1986/11/25
Vol. J69-D  No. 11  pp. 1835-1837
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
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自己検査可能な主記憶用奇数重み列SEC-DED符号誤り検査訂正回路の構成
伊藤 秀男 中道 松郎 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1983/09/25
Vol. J66-D  No. 9  pp. 1070-1077
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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計算機実験により導出された半導体記憶装置用SbEC-DbED符号
伊藤 秀男 中道 松郎 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 1983/08/25
Vol. J66-A  No. 8  pp. 741-748
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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単一誤り訂正・多重一方向誤り検出符号の一構成法
伊藤 秀男 中道 松郎 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 1982/09/25
Vol. J65-A  No. 9  pp. 934-941
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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自己検査可能なTMRシステム検査回路の構成
伊藤 秀男 中道 松郎 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1981/01/25
Vol. J64-D  No. 1  pp. 31-38
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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2nの情報ビットをもつBerger符号セルフチェッキング検査回路
伊藤 秀男 中道 松郎 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1980/10/25
Vol. J63-D  No. 10  pp. 915-916
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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不完全符号に対するセルフチェッキング検査回路設計方針の提案
伊藤 秀男 中道 松郎 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1980/08/25
Vol. J63-D  No. 8  pp. 667-668
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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Berger符号とm-out-of-n符号のセルフチェッキング検査回路の一構成法
伊藤 秀男 中道 松郎 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1980/04/25
Vol. J63-D  No. 4  pp. 326-333
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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カウントテストによる組合せ回路の故障検査
伊藤 秀男 中道 松郎 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1977/10/25
Vol. J60-D  No. 10  pp. 886-887
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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J形3値論理の提案とその故障検出特性
中道 松郎 梁 叔 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/12/25
Vol. J59-D  No. 12  pp. 941-943
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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順位線図による3値論理の分類
中道 松郎 梁 叔 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/12/25
Vol. J59-D  No. 12  pp. 943-944
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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複合3値論理素子の混合構成系の故障検出特性について
梁 叔 中道 松郎 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/12/25
Vol. J59-D  No. 12  pp. 944-945
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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