中前 幸治


少量多品種ロジックLSIの実製造デバイスデータを用いたウェーハテスト工程環境の評価:同時測定可能LSIテスタ環境とロット割付アルゴリズム
立野 善英 中前 幸治 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2003/11/01
Vol. J86-C  No. 11  pp. 1191-1201
論文種別:  論文
専門分野: 半導体材料・デバイス
キーワード: 
ウェーハテスト工程テスト効率テストコスト離散事象駆動型シミュレーションロット割付アルゴリズム
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LSIテスティングの最近の動向
中前 幸治 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2003/02/01
Vol. J86-C  No. 2  pp. 103-114
論文種別:  解説論文
専門分野: 
キーワード: 
LSIテスティング検査評価故障診断故障解析
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VLSIウェーハ製造工程における検査プロセス戦略の評価
中田 晴己 中前 幸治 藤岡 弘 西山 英利 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2002/11/01
Vol. J85-C  No. 11  pp. 1016-1027
論文種別:  論文
専門分野: 半導体材料・デバイス
キーワード: 
評価VLSIウェーハ製造工程検査プロセス戦略汚染低減経済性
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故障シミュレーションとEBテスタテストパターン系列を利用した 組合せ回路のEBテスタ故障位置特定アルゴリズム
中前 幸治 石村 貴志 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 933-939
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: 故障診断
キーワード: 
EBテスタ故障位置特定故障シミュレーションテストパターン系列組合せ回路
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知識ベース構築による光学顕微鏡観測画像からの標準セル設計VLSI回路認識
中前 幸治 横山 真司 大西 篤志 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/09/25
Vol. J80-D2  No. 9  pp. 2361-2368
論文種別:  論文
専門分野: 画像・パターン認識,コンピュータビジョン
キーワード: 
VLSI光学顕微鏡画像回路認識CMOS標準セル設計知識ベースシステム故障診断支援システム
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超LSI生産システムファイナルテスト工程のスケジューリングシミュレーションによるロット処理優先規則の評価
近村 晶央 中前 幸治 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1997/04/25
Vol. J80-C2  No. 4  pp. 139-147
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
スケジューリングファイナルテスト工程評価離散事象シミュレーション
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EBテストシステムにおける画像ベースの多重故障対応自動故障診断法
中前 幸治 織田 貴彦 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1162-1170
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 電子ビームテスト
キーワード: 
EBテストシステム区分的動的故障伝搬抽出法多重故障CADデータ故障追跡画像処理
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LSI生産システムにおけるウェーハテスト工程の評価
中前 幸治 藤井 正行 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1185-1191
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: ウェーハテスト
キーワード: 
ウェーハテスト工程LSIテスタ割付けアルゴリズムコスト評価
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ストロボSEMによるバイポーラICの故障診断
中前 幸治 藤岡 弘 裏 克己 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1981/12/25
Vol. J64-C  No. 12  pp. 895-896
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(181.8KB)

ストロボSEMによるパッシベーション膜付MOS LSIの波形観測
中前 幸治 藤岡 弘 裏 克己 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1981/12/25
Vol. J64-C  No. 12  pp. 893-894
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(126.1KB)