畠山　一実

多種クロックをもつ論理回路の決定性組込みテスト
中尾　教伸  佐藤　康夫  畠山　一実  福本　聡  岩崎　一彦 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/04/01
Vol. J86-D1  No. 4  pp. 248-259
論文種別: 論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
実動作速度テスト,  多種クロック,  遷移故障,  テスト生成,  リシード法, 
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BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバヘッドの低減
中尾　教伸  小林　誠治  畠山　一実  飯島　一彦  寺田　聖二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/20
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 852-860
論文種別: 特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト容易化設計
キーワード: 
検査点,  BIST,  テスタビリティ,  最適化,  反復改善法, 
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実数値シミュレーションに基づく順序回路用並列テスト生成システムDESCARTESの故障並列に関する評価
伊達　博  中尾　教伸  畠山　一実 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 1996/01/20
Vol. J79-A  No. 1  pp. 47-56
論文種別: 論文
専門分野: VLSI設計技術とCAD
キーワード: 
テスト生成,  順序回路,  実数値シミュレーション,  並列処理, 
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実数値シミュレーションを利用した順序回路テスト生成
彦根　和文  池田　光二  畠山　一実  林　照峯 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1992/11/20
Vol. J75-D1  No. 11  pp. 1089-1098
論文種別: 論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
順序回路,  テストパターン,  テスト生成,  シミュレーション,  最適化手法, 
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