水谷　慎佑

無侵襲型プローブによる媒質の誘電率測定
水谷　慎佑  中村　隆 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 B
発行日: 2012/06/01
Vol. J95-B  No. 6  pp. 774-777
論文種別: レター
専門分野: 
キーワード: 
誘電率,  プローブ,  無侵襲,  間隙, 
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