行友　英記

最短試験系列を多項式時間で計算可能なプロトコルのクラスについて
行友　英記  角田　良明  菊野　亨 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 B
発行日: 1993/04/20
Vol. J76-B1  No. 4  pp. 382-384
論文種別: レター
専門分野: 
キーワード: 
プロトコル,  適合性試験,  試験系列,  チェックポイントリスタート, 
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