著者索引
English Page
SITE TOP
ログイン
本文PDFの閲覧にはログインが必要です.
>
パスワードを忘れた場合は.
メニュー
検索
全文検索
英文検索
最新号目次
A:基礎・境界
和文論文誌 A
Trans.Fundamentals.
B:通信
和文論文誌 B
Trans.Commun.
C:エレクトロニクス
和文論文誌 C
Trans.Electron.
D:情報・システム
和文論文誌 D
Trans.Inf. & Syst.
アーカイブ
巻号一覧 [和文論文誌]
和文論文誌 A
和文論文誌 B
和文論文誌 C
和文論文誌 D
巻号一覧 [英文論文誌]
Trans.Fundamentals.
Trans.Commun.
Trans.Electron.
Trans.Inf. & Syst.
Transactions (1976-1990)
論文誌編集委員会&査読委員
和文論文誌
英文論文誌
各賞受賞論文/招待論文一覧
和文論文誌B(無償公開)
Trans. Commun.(無償公開)
リンク
投稿のページ
文献検索(I-Scover)
委員会からのお知らせ
IEICE HP
プライバシーポリシー
著作権について
Copyright (c) by IEICE
稲坂 朋義
マイクロコンピュータと共通のデバッグインタフェースを備えたSoC設計プラットホームの開発
近藤 弘郁
中島 雅美
高田 浩和
作川 守
樋口 崇
大谷 寿賀子
山本 整
稲坂 朋義
白井 健治
山田 圀裕
清水 徹
誌名:
電子情報通信学会論文誌 C
発行日:
2003/08/01
Vol.
J86-C
No.
8
pp.
780-789
論文種別:
特集論文 (システムLSIのための先進アーキテクチャ論文特集)
専門分野:
キーワード:
マイクロコンピュータ
,
システムオンチップ
,
設計プラットホーム
,
コ・デバッグ
,
あらまし
|
本文:PDF
(1.5MB)